一、標定時有峰喪失 能夠的緣由及應接納的解除方式 1.打針器有弊端，用新打針器考證。 2.未接入檢測器，或檢測器不起感化，查抄設定值 3.進樣溫度太低，查抄溫度，并按照須要調劑 4.柱箱溫度太低，查抄溫度，并按照須要調劑 5.無載氣流，查抄壓力調理器，并查抄泄露，

　　一、標定時有峰喪失

　　能夠的緣由及應接納的解除方式

　　1.打針器有弊端，用新打針器考證。

　　2.未接入檢測器，或檢測器不起感化，查抄設定值

　　3.進樣溫度太低，查抄溫度，并按照須要調劑

　　4.柱箱溫度太低，查抄溫度，并按照須要調劑

　　5.無載氣流，查抄壓力調理器，并查抄泄露，考證柱進品流速

　　6.柱斷裂，若是柱斷裂是在柱入口端或檢測器結尾，是能夠彌補的，切去柱斷裂局部，從頭裝配

　　二、前沿峰

　　1.柱超載，削減進樣量

　　2.兩個化合物共洗脫，進步活絡度和削減進樣量，使溫度下降10~20度，以使峰分隔

　　3.樣品冷凝，查抄進樣口和柱溫，若有須要可升溫

　　4.樣品分化，接納失活化進樣器襯管或調低進樣器溫度

　　三、拖尾峰

　　1.進樣器襯套或柱吸附活性樣品：改換襯套。如不能處置題目，就將柱進氣端去掉1~2圈，再從頭裝配

　　2.柱或進樣器溫度太低：升溫(不要跨越柱最高溫度)。進樣器溫度應比樣品最高沸點高25度

　　3.兩個化合物共洗脫：進步活絡度，削減進樣量，使溫度下降10~20度，以使峰分隔

　　4.柱破壞：改換柱

　　5.柱污染：從柱入口端去掉1~2圈，再從頭裝配

　　毛細管闡發罕見題目的處置

　　四、只要溶劑峰

　　1.打針器有弊端：用新打針器考證。

　　2.不準確的載氣流速(太低)：查抄流速，若有須要，調劑之

　　3.樣品太稀：注入已知樣品以得出杰出成果。若是成果很好，就進步活絡度或加大注入量。

　　4.柱箱溫度太高：查抄溫度，并按照須要調劑

　　5.柱不能從溶劑峰中剖析出組分：將柱改換成較厚涂層或差別極性

　　6.載氣泄露：查抄泄露處(用番筧水)

　　7.樣品被柱或進樣器襯套吸附：改換襯套。如不能處置題目，就從柱入口端去掉1~2圈，并從頭裝配

　　五、寬溶劑峰

　　1.因為柱裝配不妥，在進樣口發生死體積：從頭裝配柱。

　　2.進樣手藝差(進樣太慢)：接納疾速安穩進樣手藝。

　　3.進樣器溫度太低：進步進樣器溫度。

　　4.樣品溶劑與檢測彼此影響(二氯甲烷/ECD)：改換樣品溶劑。

　　5.柱內殘留樣品溶劑：改換樣品溶劑

　　6.隔墊洗濯不妥：調劑或洗濯

　　7.分流比不準確(分流排氣流速缺乏)：調劑流速

　　六、假峰

　　1.柱吸附樣品，隨后解吸：改換襯管，如不能處置題目，就從柱進樣口端去掉1~2圈，再從頭裝配。

　　2.打針器污染：用新打針器及潔凈的溶劑試一試，如假峰消逝，就將打針器沖刷幾回。

　　3.樣品量太大：削減進樣量。

　　4.進樣手藝差(進樣太慢：接納疾速安穩的進樣手藝

　　七、曩昔任務杰出的柱呈現未分辯峰

　　1.柱溫錯誤：查抄并調劑溫度

　　2.不準確的載氣流速：查抄并調劑流速。

　　3.樣品進樣量太大：削減樣品進樣量

　　4.進樣手藝程度太差(進樣太慢)：接納疾速安穩進樣手藝。

　　5.柱和襯套污染：改換襯套。如不能處置題目，就從柱入口端去掉1~2圈，并從頭裝配

　　八、基線不法則或不不變

　　1.柱散失或污染：改換襯套。如不能處置題目，就從柱入口端去掉1~2圈，并從頭裝配。

　　2.檢測器或進樣器污染：洗濯檢測器和進樣器

　　3.載氣泄露：改換隔墊，查抄柱泄露。

　　4.載氣節制不調和：查抄載所源壓力是不是充沛。如壓力≤500psi，請改換氣瓶。

　　5.載氣有雜質或氣路污染：改換氣瓶，利用載氣污染裝配潔凈金屬管。

　　6.載氣流速不在儀器最大/最小限制規模以內(包含FID用氫氣和氛圍)：丈量流速，并按照利用手冊手藝目標，予以考證。

　　7.檢測器出弊端：參照儀器利用手冊停止查抄。

　　8.進樣器隔墊散失：老化或改換隔墊。