一、峰喪失

　　1.打針器有弊端 用新打針器考證

　　2.未接入檢測器，或檢測器不起感化，查抄設定值

　　3.進樣溫度太低，查抄溫度，并按照須要調劑

　　4.柱箱溫度太低，查抄溫度，并按照須要調劑

　　5.無載氣流，查抄壓力調理器，并查抄泄露，考證柱進品流速

　　6.柱斷裂，若是柱斷裂是在柱入口端或檢測器結尾，是能夠彌補的，切去柱斷裂局部，從頭裝配

　　二、前沿峰

　　1.柱超載，削減進樣量

　　2.兩個化合物共洗脫，進步活絡度和削減進樣量，使溫度下降10~20度，以使峰分隔

　　3.樣品冷凝，查抄進樣口和柱溫，若有須要可升溫

　　4.樣品分化，接納失活化進樣器襯管或調低進樣器溫度

　　三、拖尾峰

　　1.進樣器襯套或柱吸附活性樣品，改換襯套。如不能處置題目，就將柱進氣端去掉1~2圈，再從頭裝配

　　2.柱或進樣器溫度太低，升溫(不要跨越柱最高溫度)。進樣器溫度應比樣品最高沸點高25度

　　3.兩個化合物共洗脫，進步活絡度，削減進樣量，使溫度下降10~20度，以使峰分隔

　　4.柱破壞，改換柱

　　5.柱凈化，從柱入口端去掉1~2圈，再從頭裝配

　　四、只要溶劑峰

　　1.打針器有弊端，用新打針器考證

　　2.不準確的載氣流速(太低)，查抄流速，若有須要，調劑之

　　3.樣品太稀，注入已知樣品以得出杰出成果。若是成果很好，就進步活絡度或加大注入量。

　　4.柱箱溫度太高，查抄溫度，并按照須要調劑

　　5.柱不能從溶劑峰中剖析出組分，將柱改換成較厚涂層或差別極性

　　6.載氣泄露，查抄泄露處(用番筧水)

　　7.樣品被柱或進樣器襯套吸附，改換襯套。如不能處置題目，就從柱入口端去掉1~2圈，并從頭裝配

　　五、寬溶劑峰

　　1.因為柱裝配不妥，在進樣口發生死體積，從頭裝配柱。

　　2.進樣手藝差(進樣太慢)，接納疾速安穩進樣手藝。

　　3.進樣器溫度太低，進步進樣器溫度。

　　4.樣品溶劑與檢測彼此影響 ，改換樣品溶劑。

　　5.柱內殘留樣品溶劑，改換樣品溶劑

　　6.隔墊洗濯不妥，調劑或洗濯

　　7.分流比不準確(分流排氣流速缺乏)，調劑流速

　　六、假峰

　　1.柱吸附樣品，隨后解吸，改換襯管，如不能處置題目，就從柱進樣口端去掉1~2圈，再從頭裝配。

　　2.打針器凈化，用新打針器及潔凈的溶劑試一試，如假峰消逝，就將打針器沖刷幾回。

　　3.樣品量太大，削減進樣量。

　　4.進樣手藝差(進樣太慢)，接納疾速安穩的進樣手藝

　　七、曩昔任務杰出的柱呈現未分辯峰

　　1.柱溫錯誤，查抄并調劑溫度

　　2.不準確的載氣流速，查抄并調劑流速

　　3.樣品進樣量太大，削減樣品進樣量

　　4.進樣手藝程度太差(進樣太慢)，接納疾速安穩進樣手藝。

　　5.柱和襯套凈化，改換襯套。如不能處置題目，就從柱入口端去掉1~2圈，并從頭裝配

　　八、基線不法則或不不變

　　1.柱散失或凈化，改換襯套。如不能處置題目，就從柱入口端去掉1~2圈，并從頭裝配。

　　2.檢測器或進樣器凈化，洗濯檢測器和進樣器

　　3.載氣泄露，改換隔墊，查抄柱泄露。

　　4.載氣節制不調和，查抄載所源壓力是不是充沛，請改換氣瓶。

　　5.載氣有雜質或氣路凈化，改換氣瓶，利用載氣凈化裝配潔凈金屬管。

　　6.載氣流速不在儀器最大/最小限制規模以內(包含FID用氫氣和氛圍)，丈量流速，并按照利用手冊手藝目標，予以考證。

　　7.檢測器出弊端，參照儀器利用手冊停止查抄。

　　8.進樣器隔墊散失，老化或改換隔墊

　　九、同一根柱保留時候是非不一

　　1.柱溫太低或太高，查抄并調劑柱溫。

　　2.載氣流速太低或太高，在柱出口處用恰當的，經標定氣源丈量流速。

　　3.樣品器隔墊或柱泄露，如須要，請查抄并修復。

　　4.柱凈化或破壞，從頭老化或改換柱

　　5.樣品超載，削減樣品進樣量

　　6.任務站出弊端，查抄任務站

　　7.載氣節制不調和，查抄載氣源，看壓力是不是充足。請改換氣瓶。