冰點滲入壓儀首要由兩局部組成，一局部為半導體制冷模塊，另外一局部為樣品探針。因為半導體的特征決議了其不須要平常的掩護，這也申明這個部件是不輕易出毛病的;不過因為樣品探針是袒露在儀器里面，并且樣品探針的測試頭是由一個玻璃球包著的一個對熱極其敏感的電阻組成的，以是要耽誤儀器的利用壽命，若何掩護和掩護樣品探針顯得極其主要，下面就若何掩護和掩護樣品探針做下詳細講授：

　　1、倡議起首請專人擔任滲入壓儀的利用，或在專人的指點下做滲入壓樣品的測試。

　　2、不管是測試樣品時仍是未測試樣品時樣品探針下面必然要放一個樣品管，如許就保障了樣品管不袒露在里面，從而避免了間接打仗而形成的侵害。

　　3、在向冷阱壓下樣品探針時必然要放樣品管在樣品探針下面，不然使勁壓下樣品探針，樣品探針間接打仗冷阱的底部，形成樣品探針破壞。

　　4、儀器關機后，要壓下帶有空的樣品管的樣品探針至冷阱，避免儀器在不利用的進程中而形成的破壞。

　　5、若是有條件，盡可能請求滲入壓儀供給商在供給儀器時，另配一個樣品探針備用。

　　6、儀器在測試完一個樣品后，要用柔嫩的非離子的紙巾悄悄擦拭樣品探針。

　　7、儀器利用一段時候后，特別是當測試的樣品黏稠度較高時，要用蒸餾水來洗濯樣品探針。

　　8、當儀器測試完每個樣品后，先將樣品探針連同樣品抬起，再停止記實等。